fischer x射線鍍層測厚儀

fischer x射線鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

Fischerscope X-ray XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器

菲希爾x射線測厚儀比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

Fischer x射線測厚儀由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。

高精度涂層測厚儀、超聲波測厚儀、涂層測厚儀、粗糙度、表面輪廓儀、圓度儀、圓柱度的儀器,淬火硬化層深度無損測量儀,組件清潔度測試系統(tǒng)、關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測量針探針,工業(yè)電子內(nèi)窺鏡,平面度測量儀、光譜儀、高度計(jì)、通用長度測量機(jī),齒輪嚙合儀,齒輪測量中心、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、硬度計(jì)、滲碳層厚度計(jì)、滲氮層深度無損檢測儀、紅外熱成像儀、紅外溫度計(jì)、投影儀、視頻測量儀、材料萬能試驗(yàn)機(jī)、莫尼粘度計(jì)、振動(dòng)計(jì)等精密測量儀器。

X射線熒光分析法 (XRFA)

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能更好勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。